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PLM-F系列电子分析/精密天平，采用高精度电磁力传感器技术，下置式结构。
整机外观新颖、坚固，称重示值反应快，稳定性好，良好的视觉效果结合超大容积的操作空间，满足广泛实验室的精密称重要求。
PLM-F系列0.01g精密天平
产品参数:
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型号 |
*大量程(g) |
可读性(g) |
重复性（g） |
线性误差(g) |
操作温度(℃) |
秤盘尺寸(mm) |
外形尺寸(mm) |
稳定时间 |
|
PLM-F2102 |
2100 |
0.01 |
±0.02 |
±0.02 |
5-35 |
Φ160 |
325*205*110 |
≤3s |
|
PLM-F3102 |
3100 |
0.01 |
±0.02 |
±0.02 |
5-35 |
Φ160 |
325*205*110 |
≤3s |
|
PLM-F4102 |
4100 |
0.01 |
±0.02 |
±0.02 |
5-35 |
Φ160 |
325*205*110 |
≤3s |
|
PLM-F5102 |
5100 |
0.01 |
±0.02 |
±0.02 |
5-35 |
Φ160 |
325*205*110 |
≤3s |
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PLM-F6102 |
6100 |
0.01 |
±0.02 |
±0.02 |
5-35 |
Φ160 |
325*205*110 |
≤3s |
